EMC之大电流注入测试法 (BCI)

电子产品有许多不同的电磁敏感度测试，以下是大电流注入（Bulk Current Injection）测试的示例。关于大电流注入和磁化率测试的其他规范可能会不同。利用大电流注入的最常见测试标准是MIL-STD 461，RTCA / DO-160（航空），IEC 61000-4-6（商业）和ISO 11452-4（汽车）。
依据ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等标准要求，对汽车电子零部件系统等车载电子设备（包括电动汽车DC-DC模块、车载充电机等）进行BCI大电流注入抗扰度测试。大电流注入测试法被认为是汽车电子模块敏感度测试的最重要的测试项目，也是汽车零部件企业首先建设的项目之一。

国际、国内、汽车厂商标准及测试项目：

大电流注入测试方法

在11452-4中测试方法如下：
替代法：150±10mm、450±10mm和750±10mm；
闭环法：900±10mm，监视探头与EUT的距离是50±10mm，替代法中监测探头可有可无；
TWC法：100±10mm，50Ω的负载离管状波耦合器至少200mm。

BCI闭环测试法

BCI测试典型配置图：

测试环境：屏蔽室或电波暗室

CDG7000系列 BCI大电流注入测试系统

大电流注入测试旨在确认RF信号在耦合到互连电缆和/或电源线上时，不会导致性能下降或与被测设备的规格发生偏差。此外，它将提供幅度/频率故障信号。由于电缆中会出现较大的可变电路阻抗和谐振，因此使用校准夹具将正向功率建立到注入探针中，从而在校准夹具中产生定义的电流。实际注入的电流由监视电流探针监视。

BCI校准

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